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硼硅酸盐玻璃成份分析标准物质
本标准物质用于校正分析仪器,校验分析基体相类似的硼硅酸盐玻璃或其它物质时所用方法的可靠性和数据的准确性,以及质量认证。它可作为量值传递和仲裁分析的依据。
一、制备方法
样品经过水淬,粉碎,高铝瓷球磨机研磨,混匀(粒度小于0.074mm占99.25%),装瓶,均匀性检验。
二、标准值及不确定度
项目 | 成份(%) | ||||||||||
SiO2 | Al2O3 | Fe2O3 | TiO2 | CaO | MgO | K2O | Na2O | B2O3 | F | L.O.I. | |
标准值 | 53.98 | 14.50 | 0.34 | 0.19 | 16.54 | 4.40 | 0.59 | 0.096 | 8.87 | 0.54 | 0.26 |
标准偏差(S) | 0.14 | 0.12 | 0.01 | 0.02 | 0.09 | 0.12 | 0.04 | 0.011 | 0.11 | 0.04 | 0.04 |
数据组数(N) | 10 | 9 | 9 | 9 | 9 | 9 | 9 | 9 | 9 | 8 | 9 |
三、分析方法
成份 | 分析方法 |
SiO2 | COL、GR、VOL、XRF |
Al2O3 | VOL、XRF |
Fe2O3 | AAS 、COL、ICP、XRF |
TiO2 | COL、ICP、XRF |
CaO | AAS 、ICP、VOL、XRF |
MgO | AAS 、ICP、VOL、XRF |
K2O | AAS 、FP、ICP、XRF |
Na2O | AAS 、FP、ICP、XRF |
B2O3 | ICP、VOL |
F | COL、IC |
L.O.I. | GR样品 在550℃灼烧 |
注:AAS原子吸收分光光度法
FP火焰光度法
GR重量分析法
IC离子选择电极法
ICP等离子体 发射光谱法
VOL容量分 析法
XRF X-射线荧 光光谱法
分析前,样品需在105~110℃烘干2小时。
四、均匀性和稳定性检验
样品以分装的最小单元数N为基数,按计算,随机取样,采用X射线荧光光谱分析方法和化学分析方法对样品中的SiO2、Al2O、B2O3、CaO、Na2O进行了均匀性检验,证明均匀性良好。最小称样量为0.1g。
在一年间测定了样品的稳定性,稳定性好。以后定期检查,如果数据发生变化,将随时通知用户。
五、包装、贮存
本标准物质包装在玻璃瓶中,每瓶50克。样品保存在阴凉、干燥处。
注:以上信息仅供参考,以产品附带证书为准。
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