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钾长石成份分析标准物质
本标准物质用于校正分析仪器,检验分析基体相类似的钾长石或其它物质时所用方法的可靠性和数据的准确性。
一、制备方法
样品经过粉碎,高铝瓷球磨机研磨,混匀(粒度小于200目占99.84%),装瓶,均匀性检验,分析测试,定值,数据汇总统计处理。
二、标准值及标准偏差
项目 |
成份(%) |
||||||||
SiO2 |
AI2O3 |
Fe2O3 |
TiO2 |
CaO |
MgO |
K2O |
Na2O |
L.O.I |
|
标准值 |
66.26 |
18.63 |
0.19 |
0.048 |
0.76 |
0.054 |
9.60 |
3.69 |
0.86 |
标准偏差(S) |
0.15 |
0.15 |
0.02 |
0.007 |
0.06 |
0.011 |
0.11 |
0.11 |
0.06 |
三、分析方法
成份 |
分析方法 |
|||
SiO2 |
COL GR ICP VOL XRF |
|||
AI2O3 |
COL GR ICP VOL XRF |
|||
Fe2O3 |
AAS COL ICP VOL XRF |
|||
TiO2 |
COL ICP XRF |
|||
CaO |
AAS GR ICP VOL XRF |
|||
MgO |
AAS ICP XRF |
|||
K2O |
AAS FP ICP XRF |
|||
Na2O |
AAS FP ICP XRF |
|||
L.O.I. |
GR 试样在1000°C灼烧 |
|||
注: |
AAS 原子吸收分光光度法 |
|||
COL 比色分析法 |
||||
FP 火焰光度法 |
||||
GR 重量分析法 |
||||
ICP 等离子体发射光谱法 |
||||
VOL 容量分析法 |
||||
XRF X-射线荧光光谱法 |
||||
|
分析前,样品需经105-110°C烘干2h。 |
四、均匀性和稳定性检验
样品以分装的最小单元数N为基数,按2×3√n计算,随机取样进行均匀性检验,利用方差(F)检验法,其结果F<Fα。样品是均匀的,测定时最小称样量为0.1g。
在同一年测定了样品的稳定性。以后每年检查一次,如果数据发生变化,随时报告。
五、包装、贮存
本标准物质包装在塑料瓶中,50g/瓶。样品保存在阴凉、干燥处。
注:以上信息仅供参考,以产品附带证书为准。
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