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工业硅成分分析标准物质
Silicon metal
本标准物质适用于工业硅材料的产品质量检验、测量仪器的校准,测量方法的评价和统一测试量值,也可用于此类产品生产控制分析、仲裁分析和检测人员的考核等。
一、制备方法
成分设计→原料选取→干燥→颚式破碎机粗破碎→对辊破碎机细破碎→球磨机研磨→磁选→筛分<0.080mm(180目)→机械混匀10r/min→密封保存→均匀性初检→包装→均匀性复检→数理统计→定值
二、认定值及不确定度(%)
国家编号 |
样品编号 |
样品名称 |
元素 |
Fe |
Al |
Ca |
Ti |
P |
Ni |
Mn |
GBW(E)010359 |
ZBY347 |
工业硅 |
认定值 |
0.65 |
0.360 |
0.067 |
0.035 |
0.0055 |
0.015 |
0.0083 |
不确定度 |
0.02 |
0.007 |
0.002 |
0.002 |
0.0002 |
0.002 |
0.0004 |
|||
GBW(E)010360 |
ZBY348 |
工业硅 |
认定值 |
0.62 |
0.273 |
0.069 |
0.033 |
0.0077 |
0.0045 |
0.017 |
不确定度 |
0.02 |
0.004 |
0.003 |
0.002 |
0.0002 |
0.0003 |
0.002 |
|||
GBW(E)010361 |
ZBY349 |
工业硅 |
认定值 |
0.57 |
0.275 |
0.065 |
0.032 |
0.0076 |
0.0042 |
0.016 |
不确定度 |
0.02 |
0.003 |
0.003 |
0.004 |
0.0004 |
0.0003 |
0.002 |
注:1、测量组数为8。
2、表中不确定度以扩展不确定度表示,包含因子为2。
三、分析方法
元素 |
方法 |
Fe |
1,10-二氮杂菲光度法,电感耦合等离子体发射光谱法 |
Al |
络天青S光度法,电感耦合等离子体发射光谱法 |
Ca |
电感耦合等离子体发射光谱法,原子吸收光谱法 |
Ni |
电感耦合等离子体发射光谱法,原子吸收光谱法 |
Ti |
二安替吡啉甲烷光度法,电感耦合等离子体发射光谱法 |
Mn |
电感耦合等离子体发射光谱法,火焰原子吸收光谱法 |
P |
铋磷钼蓝光度法,电感耦合等离子体发射光谱法 |
四、均匀性检验
从混匀的样品中随机抽取30瓶(小包装),采用方差F检验法,检验结果:F
五、包装、使用和储存
瓶装,净重50g,塑封。称样后将瓶盖拧紧,存放于干燥处,使用前混匀。
六、溯源性
本标准物质采用多种分析方法由多家实验室定值,其量值可溯源到基准物质或SI 国际单位制,通过使用满足计量学特性要求的测量方法和计量器具,保证标准物质的量值溯源性。
注:以上信息仅供参考,以产品附带证书为准。
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