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Infrared Transmittance(Monocrystalline Silicon)
本标准物质主要用于中红外分析仪器的校准、材料的透射比赋值及验证检测方法,以及为材料的透射比值提供国内外权威、统一的测试数据。
本标准物质为物化性能稳定的双抛单晶硅制成。
红外透射比采用绝对测量法定值,定值测量时入射角度为正入射,接收时在样品正后方接收。定值测量条件为切趾函数 Blackman-harris 3 term。标准物质特性量标准值直接溯源至国家基标准([2012]国量标计证字第 246 号)。
三、特性量值及不确定度
波长(cm-1) |
红外透射比值及扩展不确定度(k=2) |
4000 |
0.537±0.006 |
3500 |
0.538±0.007 |
3000 |
0.540±0.006 |
2500 |
0.541±0.006 |
2000 |
0.542±0.006 |
1300 |
0.519±0.006 |
1000 |
0.500±0.006 |
500 |
0.456±0.008 |
标准值的不确定度主要由定值测量、均匀性、稳定性等引入的不确定度分量合成而得。四、均匀性检验及稳定性考察
参照 JJF1343-2012《标准物质定值的通用原则及统计学原理》,对分装后的样品进行随机抽样。采用 F 检验法对样品的均匀性进行检验、采用线性拟合法对样品的稳定性进行考察,结果为均匀性、稳定性良好。
本标准物质自定值日期起,有效期 1 年,研制单位将继续跟踪监测该标准物质的稳定性,有效期内如发现量值变化,将及时通知用户。
声明
1.本标准物质仅供实验室研究与分析测试工作使用。因用户使用或储存不当所引起的投诉,不予承担责任。
2.收到后请立即核对品种、数量和包装,相关赔偿只限于标准物质本身,不涉及其他任何损失。
3.仅对加盖“中国计量科学研究院标准物质专用章”的完整证书负责。请妥善保管此证书。
4.如需获得更多与应用有关的信息,请与技术咨询部门联系。
注:以上信息仅供参考,以产品附带证书为准。
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